オチ ヒロユキ
越智 裕之
OCHI HIROYUKI
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
発表年月日 2013/03/20
発表テーマ Hot-swapping architecture with back-biased testing for mitigation of permanent faults in functional unit array
会議名 Design, Automation & Test in Europe (DATE)
開催地名 Grenoble, France
学会区分 国際学会
発表形式 口頭(一般)
単独共同区分 共同
発表者・共同発表者 Zoltan Endre Rakosi, Masayuki Hiromoto, Hiroshi Tsutsui, Takashi Sato, Yukihiro Nakamura, and Hiroyuki Ochi