オチ ヒロユキ
越智 裕之
OCHI HIROYUKI
所属 情報理工学部 情報理工学科
職名 教授
発表年月日 2013/03/06
発表テーマ Multi-trap RTN parameter extraction based on bayesian inference
会議名 International Symposium on Quality Electrical Design (ISQED)
開催地名 Santa Clara, USA
学会区分 国際学会
発表形式 口頭(一般)
単独共同区分 共同
発表者・共同発表者 Hiromitsu Awano, Hiroshi Tsutsui, Hiroyuki Ochi, and Takashi Sato