モウリ シンイチロウ
毛利 真一郎
MOURI SHINICHIRO
所属 理工学部 電気電子工学科
職名 准教授
言語種別 英語
発行・発表の年月 2018/08
形態種別 論文(その他)
査読 査読あり
標題 Evidence for line width and carrier screening effects on excitonic valley relaxation in 2D semiconductors
執筆形態 共著
掲載誌名 Nature Communications
巻・号・頁 9,2598
著者・共著者 Yuhei. Miyauchi, Satoru. Konabe, Feijiu. Wang, Wenjin. Zhang, Alexander. Hwang, Yuusuke. Hasegawa, Lizhong. Zhou, Shinichiro. Mouri, Mingling. Toh, Goki. Eda and Kazunari. Matsuda,
DOI https://doi.org/10.1038/s41467-018-04988-x